2830 ZT

2830 ZT, PANalytical
Características

El sistema 2830 ZT se suministra con el software SuperQ de PANalytical, que incluye un paquete de software específicamente diseñado para análisis multicapa.

2830 ZT, PANalytical
Specifications

El sistema 2830 ZT incorpora características clave que maximizan su rendimiento, sensibilidad y estabilidad en elementos ligeros.

2830 ZT, PANalytical
Qué puede hacer por usted?

El software del equipo cuenta con una amplia variedad de módulos para que investigadores e ingenieros puedan trabajar con él de forma flexible. The instrument's software has a wide range of modules designed for flexible operation by researchers and engineers.

SuperQ Thin Film, PANalytical
SuperQ Thin Film

La plataforma de software SuperQ Thin Film hace que resulte más fácil que nunca realizar análisis de obleas y realizar un control de procesos preciso.

XPert ProThin Film, PANalytical
Ahora se usa para la metrología de película delgada

La metrología por rayos X es la herramienta ideal para el análisis de semiconductores compuestos en el desarrollo y producción.

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